1. An artificial intelligence approach to test generation

پدیدآورنده :

موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing - Data processing,Expert systems (Computer science),Artificial intelligence

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

2. Surveying

پدیدآورنده :

موضوع : Survwying

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.